专利权人:北京理工大学
在国际上率先将共焦显微技术与光线追迹技术结合并拓展到光学元件测量领域,提出了激光差动共焦层析定焦新原理,发明了基于该层析定焦原理的激光差动共焦元件参数测量系列方法,研制成功了多种激光差动共焦元件参数测量新原理仪器,首次在同一台仪器上实现了透镜曲率半径、透镜折射率、透镜厚度、透镜焦距、透镜间隔乃至面型参数的高精度综合测量,完善了光学元件参数测试理论与技术体系。该研究成果得到国家科技部国家重大科学仪器设备开发专项“激光差动共焦成像与检测仪器研发及应用研究(2011YQ040136)”项目和国家自然基金科学仪器
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