专利权人：汕头大学

基于单目视觉的三维测量系统，适用于IC引脚共面性测量、印刷电路板锡膏印刷表面的三维测量、微电子器件和机械零部件的表面三维尺寸测量、异形面工艺尺寸测量、复杂工件非共面孔系的位置精度测量，手机保护盖表面弧度和共面性测量等。

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