专利权人:深圳大学
该成果适用于太赫兹光学领域,提供了一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置及测量方法。探测光先经过起偏器后进入电光晶体,尔后被一宽带50:50分束器分成强度相等的两束光。这两束光分别经过一只相位补偿器和一只线性偏振器后分别被平衡探测器的两个接受端接收。后面的两只线性偏振器与前面的起偏器成正交设置。这项创新的特点是既具有45°光学偏置电光取样装置的消背底噪声能力和宽线性动态范围,又具有近0°光学偏置电光取样装置的高太赫兹光学调制度的特性。其创新的意义是在现有的太赫兹脉冲产生条件下能大幅度提高基于太赫兹电光取样
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