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高分辨率线阵成像与识别技术在液晶屏微米级缺陷检测

专利权人:电子科技大学

随着智能手机等电子产品的飞速发展,液晶面板的应用范围变得越来越广泛。生产的液晶面板可能会存在缺陷,由于缺陷大小通常为微米量级,目前只能采用人工抽检的方式,不能满足工业化生产对液晶面板产品质量的检测要求。若要满足自动化检测的需求,则必须解决高分辨率成像、大幅面图像数据传输、高速图像处理和精准算法识别等问题。 本项目在液晶屏生产过程中的不同环节都进行过相关的成像与识别技术研究: 1、COG绑定后导电金球的深浅、个数和偏位。该设备采用线阵相机配合精密运动平台实现0.7微米分辨率的图像采集,可以实现产品的全检

具体了解该成果信息,请致电:13551026540

随着智能手机等电子产品的飞速发展,液晶面板的应用范围变得越来越广泛。生产的液晶面板可能会存在缺陷,由于缺陷大小通常为微米量级,目前只能采用人工抽检的方式,不能满足工业化生产对液晶面板产品质量的检测要求。若要满足自动化检测的需求,则必须解决高分辨率成像、大幅面图像数据传输、高速图像处理和精准算法识别等问题。 本项目在液晶屏生产过程中的不同环节都进行过相关的成像与识别技术研究: 1、COG绑定后导电金球的深浅、个数和偏位。该设备采用线阵相机配合精密运动平台实现0.7微米分辨率的图像采集,可以实现产品的全检,一台设备可替代目前人工检测的8-10个人,对于提高产能提升产品质量具有非常重大的意义。该技术已在多条产线实际应用,性能稳定可靠,已具备量产条件。 2、液晶屏线路缺陷检测。该设备采用复杂高分辨率多通道线阵相机阵列进行光学成像,同时配合精密运动平台实现2.5微米分辨率的图像采集,并实现液晶屏线路粘连、断线、凸包、缺角、过渡腐蚀等缺陷的自动检测。