该冰点测量仪实质为半导体制冷仪器，与其他制冷方式相比：无机械制冷运动部件,从而没有振动和噪声,无需考虑液击隐患，工作可靠,维护操作简便；无制冷剂,不存在配套制冷管路中制冷剂泄漏和环境污染问题；半导体制冷片热惯性非常小，制冷迅速，可实现高精度的温度控制。该仪器利用半导体冷端给样品盒制冷，并用水冷散热系统来吸收半导体热端产生的热量，从而使样品盒中的被测样品持续降温、 冻结，同时通过内置无纸记录仪采集被测样品的温度以获得被测样品的冻结曲线，进而获得样品的过冷点、冰点。目前常用冰点测量方法有两种，冻结法和差示扫描量热仪测量法。该冰点测量仪与其相比，具有以下优势：结构简单，成本低廉；小巧灵活， 便携性好；被测样品可以是适当大小的块状固体或者纱布过滤后的均匀汁液，使用方便，适用范围广；可根据样品需要，通过调温延时或者事先在样品盒底部放置不同导热率的介质来控制样品的降温速率，即被测样品降温速率可控； 测量中实时显示被测样品的温度及其降温曲线，数据可直接通过 U 盘接口导出，无需外接数据采集仪，非常直观方便； 操作便利，测量周期短，而且测量中噪音较小。