宽分布纳米颗粒测量仪是一款基于动态光散射技术（Dynamic Light Scattering, DLS）的颗粒测量仪器。该技术通过求取颗粒散射光强自相关函数（Autocorrelation function，ACF）获取颗粒的粒径分布信息，但是由测量ACF求解粒径分布问题需要求解病态方程，只有测量数据中无噪声以及数据运算无误差时，方程在理论上才有唯一解。该条件在实际测量中无法满足，对于窄分布颗粒系，反演参数少，方程病态性轻，尚能给出较准确的反演结果。而对于宽分布的颗粒系，由于反演参数多、方程病态性重，难以得到准确的测量结果。因此，传统的颗粒测量仪对窄分布颗粒系的测量效果较好，对宽分布颗粒系难以得到准确的结果。在分析了DLS颗粒测量机理局限性基础上，从减小数据测量误差以及运算误差角度入手，降低反演方程的病态性，提出了一种适合于宽分布纳米颗粒的测量技术。该技术采用多通道延时――小波相关滤波方法获取ACF数据，将ACF构成的反演问题分解为多个子问题进行求解获取粒径分布。该技术的形成的产品适合于宽分布测量，具有测量精度高、可靠性好等优点。 测量仪器能够完成宽分布纳米颗粒粒径分布的测量。技术指标：单峰分布颗粒系，峰值重复误差≤5%，相对误差≤5%；双峰分布颗粒系，峰值重复误差≤10%，相对误差≤10%。 主要应用领域：纳米金属氧化物、纳米金属粉、纳米陶瓷材料、蛋白质、聚合物胶乳、药物制备、水/油乳液、油漆、涂料、颜料、油墨、调色剂、化妆品以及其它所有纳米材料研究、纳米材料制备与纳米材料应用等领域。