专利权人：河北大学

对于复合硅衬底上制备的多层石墨烯样品，利用光学显微镜找到需要测试的多层石墨烯样品区域，选择激光光源，利用显微拉曼谱仪分别测试复合硅衬底以及位于520波数附近的一阶硅拉曼信号，得到强度比值I(SiG)/I(Si0)的测试值。将测试值与I(SiG)/I(Si0)随石墨烯层数变化关系的理论列表进行对照，得到多层石墨烯样品的层数。

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