半导体器件自动测量仪，已获得了甘肃省计量研究院颁发的“仪器校验证书”。该测量系统是一套可用于双端和三端电子器件的自动测量系统，主要应用于场效应晶体管(FET)和二极管特性的测量。该测量系统的优势在有机场效应晶体管OFET器件的测量中可以很好的体现，由于OFET器件的阻抗比较高，在测量中需要有弱电流的测量能力(nA级或更小)和较高电压的输出能力(100V)，该系统完全满足上述需求。OSDMeas-1测量仪由计算机、数据采集卡、电压源和电流放大器等功能模块构成，实现了电压-电流特性的自动扫描测量。测量方式采用最简单的电压源方式，也就是施加电压，测量电流的方式。计算机与数据采集卡通过PCI（或者USB）接口连接，实现了软件系统对硬件的控制。测量数据和曲线实时显示，直观明了。该系列测量系统产品化后，与其他同类产品相比而言，将具有很高的性能价格比。有望在国内从事于有机半导体器件的科研单位及企业推广应用。