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生产过程控制SPC终端控制仪

专利权人:中国计量大学

研究领域/方向:生产过程监控,质量分析统计/在线检测、数据分析成果简介:本系统通过采集生产现场产品质量数据,采用SPC理论进行生产可靠性、稳定性分析,提供实时产品质量数据, 计算Cp、Cpk、Pp和Cmk等过程能力指数,为生产过程决策提供依据。功能包括:1. 支持多通道数据采集功能;2. 每个通道可独立设置产品型号、产品名称、机床名称、检具名称、被测参数、公差上限、公差下限、控制上限、控制下限、操作工姓名、操作工工号、操作工岗位;3. 支持通过RFID自动识别当前操作员工的相关信息功能;支持手动录入当前操

具体了解该成果信息,请致电:15068708538

研究领域/方向:生产过程监控,质量分析统计/在线检测、数据分析成果简介:本系统通过采集生产现场产品质量数据,采用SPC理论进行生产可靠性、稳定性分析,提供实时产品质量数据, 计算Cp、Cpk、Pp和Cmk等过程能力指数,为生产过程决策提供依据。功能包括:1. 支持多通道数据采集功能;2. 每个通道可独立设置产品型号、产品名称、机床名称、检具名称、被测参数、公差上限、公差下限、控制上限、控制下限、操作工姓名、操作工工号、操作工岗位;3. 支持通过RFID自动识别当前操作员工的相关信息功能;支持手动录入当前操作员工的相关信息功能;4. 支持首检产品的权限管理功能;5. 能对测量模式、初始延时、采样个数、平均值取值范围、圆度取值范围、圆度算法取值个数、电子柱量程、仪器量程等参数进行设置;6. 能对标准件进行校正值设置,并具有恢复示值功能;7. 具备多个测量值或统计值显示功能;预控制图支持计数型和计时型显示功能;8. 具备Cp、Cpk、Pp和Cmk等过程能力指数计算功能;9. 具备判异参数设定功能,判异方法选择包括:(1)CP过小,(2)CPK过小;(3)P p过小;(4)P pK过小;(5)尺寸点在控制界限外或刚好在界限上;(6)连续3个点中,有2个点以上接近控制界限;(7)连续7个点中,有3个点以上接近控制界限连续10个点中,有4个点以上接近控制界限;(8)在控制图中心线一侧连续出现7个点;(9)连续11个点中,有10个点以上在中心线一侧;(10)连续14个点中,有12个点以上在中心线一侧;(11)连续17个点中,有14个点以上在中心线一侧;(12)连续20个点中,有16个点以上在中心线一侧;(13)连续7个点上升;(14)连续15个点集中在中心线附近10. 具备数据查询功能和Cp、Cpk、Pp、Cmk报表导出功能;11. 具备和机联网连机的接口功能。样机图如下: