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三维测量与表面质量检测系统

专利权人:汕头大学

  基于单目视觉的三维测量系统,适用于IC引脚共面性测量、印刷电路板锡膏印刷表面的三维测量、微电子器件和机械零部件的表面三维尺寸测量、异形面工艺尺寸测量、复杂工件非共面孔系的位置精度测量,手机保护盖表面弧度和共面性测量等。该方法基于构建的单目视觉系统,只需对视场内的物体采集单幅图像,即可快速测量视场内所有物体可视表面的三维信息,克服传统SFS法反向恢复表面形貌时求解的不确定性、慢收敛性问题和基于多目视觉测量的多相机位置标定、算法测量过程的立体匹配问题,是本课题组的原创性成果。

具体了解该成果信息,请致电:13592832585

  基于单目视觉的三维测量系统,适用于IC引脚共面性测量、印刷电路板锡膏印刷表面的三维测量、微电子器件和机械零部件的表面三维尺寸测量、异形面工艺尺寸测量、复杂工件非共面孔系的位置精度测量,手机保护盖表面弧度和共面性测量等。该方法基于构建的单目视觉系统,只需对视场内的物体采集单幅图像,即可快速测量视场内所有物体可视表面的三维信息,克服传统SFS法反向恢复表面形貌时求解的不确定性、慢收敛性问题和基于多目视觉测量的多相机位置标定、算法测量过程的立体匹配问题,是本课题组的原创性成果。 技术参数:最高测量精度5um, 测量速度:5-15视场/min