（项目简介包括成果概述、技术及产品特点、应用领域、产能及主要经济技术指标、投入需求等） 本技术成果涉及集成电路测试技术领域，公开了一种RFID读写器芯片中测系统及方法，系统包括：探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器。工作流程：探针台向中央处理器发出开始测试信号；中央处理器响应探针台发出的开始测试信号，并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求；芯片阅读器与RFID卡进行通信测试，并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器；中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台；探针台显示被测芯片的测试结果。 本技术成果发明了一种RFID读写器芯片中测系统及方法，保证了测试系统的稳定运行，并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理，不仅适用于芯片中测过程，同时也适用于芯片封装后的成品测试，具有良好的扩展能力，大大节约研发成本。