密码技术是信息安全的核心技术和系统安全保障的关键，本课题组在侧信道分析、防护、测试方面有着十年以上的研究及开发经验，提出多项侧信道分析方法、轻量化防护方法，并与国内多家芯片设计、评测单位合作完成各种类型密码芯片的定制化测试系统开发。多次参加国际密码芯片攻击竞赛，并取得优异成绩。本项目是在课题组理论研究的基础上，提出的一种基于不可能差分故障分析的密码芯片分析及测试方法，并与功耗分析、电磁分析、时间分析等集成在统一的侧信道分析与测试系统中。该分析与测试系统的展示效果是加密芯片或基于加密的软硬件系统在执行加密的过程中，可以利用本系统，对功耗、电磁、时间、及故障引入等进行样本采集；针对采集的样本进行密钥或其它敏感信息的还原。整个演示过程我们将分成两个阶段：第一个阶段，面向密码芯片专业设计者，系统给出专业的安全性评测，包括测试报告和测试图表，并能针对芯片及加密系统中的泄漏问题，进行定位、定量的评估，极大方便芯片设计者及设计厂家进行针对性的安全防护增强，且缩短修改周期；第二个阶段，面向信息安全应用系统的开发单位，该分析测试系统将以更直观、便捷的方式给出密钥破译的结果，如有必要将针对特定应用，在密钥破译基础上对整个应用系统的安全性重新评估。本系统有着较充分的研究基础和应用推广性，相比其它国内外同类分析测试系统，我们有着以下几点明显优势：第一、泄漏定位及定量评估；第二、防护方法的自动化反哺设计；第三、多种侧信道分析方法综合评测。