一、项目简介光器件的研制、生产和使用迫切需要幅度相位响应等多维参数的测量，但国内缺乏专用仪器设备。全球仅有一款商用产品（美国LUNA公司的OVA5000），形成了技术壁垒。项目团队基于独创的新型微波光子测量技术，实现了幅度相位响应等多维参数的同时测量，相比国外产品，测量分辨率提高了1600倍。该技术于2015年受到国家重大科研仪器研制项目的支持，从原理样机开始，已更新迭代成为满足产业要求的仪器产品。产品指标通过了“国家光电子一级计量站”的检测认证。团队拥有完整自主知识产权，已公开发明专利27项，授权14项。《科技日报》以“我国首台超高精度光矢量分析仪问世”为题进行了头版头条报道。产品已服务于中科院半导体所、东南大学、北京邮电大学、航天电器、长飞公司、中兴公司等二十余家科研单位和企业，对于我国高端光器件的研制和生产，以及相关产业的升级换代具有重要的推动作用。二、主要技术指标仪器类型: 光器件分析仪测量原理: 微波光子技术(新型测量原理)可测量光器件参数: 关键参数: 幅度响应、相位响应、偏振响应其他参数: 插损、色散、群延时、偏振模色散、布里渊散射、拉曼散射等特性指标参数: 测量分辨率: 1 fm(提升1600倍) 测量范围: C波段（1530-1565 nm） 动态范围: 60 dB 幅度误差: ±0.1 dB 相位误差: ±0.005 rad(提升10倍)三、应用领域及市场前景光器件的研制、生产和使用迫切需要幅度相位响应等多维参数的测量，但国内缺乏专用仪器设备。全球仅有一款商用产品（美国LUNA公司的OVA5000），形成了技术壁垒,而且其测量分辨率仅为200MHz（1600飞米），已无法支撑新型光器件的研制、生产和应用。本创业团队开发的超高分辨率光矢量分析仪，不仅能够同时测量多维光器件响应，和国外产品相比，还将测量分辨率提高了1600倍，达到1飞米，相位精度提高了10倍。产品推入市场后，能够满足新一代光器件的超高精度测试需求，大幅提升现有测试水平，在核心光子集成芯片与创新器件的研制、检测和应用中获取现有仪表难以测量到的新数据，推动光器件市场的进步和发展，对国家光通信相关产业的发展具有战略意义。 图1 仪器测量光子芯片系统图 图2 项目拟研制的光矢量分析仪与OVA5000测试结果对比图 （a）幅度响应； （b）相位响应 其中蓝色细线为OVA5000所测，在最高精度下仅测得4个数据点 红色粗线为本产品所测，可以测得6401个数据点